可用于分析當今low-e玻璃中比較流行的單銀、雙銀、三銀玻璃及熱反射產(chǎn)品膜系結構分析， 如NiCr、Cr、Cu、Ag、單晶Si、C、ZnSn、SiAl、ZnAl、TiOX、NbOX、AZO等材料組成的各種膜系機構，可準確F分析測試各膜層的厚度和光學常數(shù)(N、K)。

產(chǎn)品特點：

易于安裝 基于視窗結構的軟件，很容易操作 先進的光學設計，以確保能發(fā)揮出較佳的系統(tǒng)性能 能夠自動的以0.01度的分辨率改變?nèi)肷浣嵌? 高功率的DUV－VIS光源，能夠應用在很寬的波段內(nèi) 基于陣列設計的探測器系統(tǒng)，以確�？焖贉y量 較多可測量12層薄膜的厚度及折射率 能夠用于實時或在線的監(jiān)控光譜、厚度及折射率等參數(shù) 系統(tǒng)配備大量的光學常數(shù)數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)庫 對于每個被測薄膜樣品，用戶可以利用先進的TFProbe3.0軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫、也可以進行色散或者復合模型（EMA）測量分析 三種不同水平的用戶控制模式：專家模式、系統(tǒng)服務模式及初級用戶模式 靈活的專家模式可用于各種獨特的設置和光學模型測試 健全的一鍵按鈕(Turn－key)對于快速和日常的測量提供了很好的解決方案 用戶可根據(jù)自己的喜好及操作習慣來配置參數(shù)的測量 系統(tǒng)有著全自動的計算功能及初始化功能 無需外部的光學器件，系統(tǒng)從樣品測量信號中，直接就可以對樣品進行準確的校準 可精密的調(diào)節(jié)高度及傾斜度 能夠應用于測量不同厚度、不同類型的基片 各種方案及附件可用于諸如平面成像、測量波長擴展、焦斑測量等各種特殊的需求 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數(shù)據(jù)管理界面。

系統(tǒng)配置：

型號：SE200BA-M300 探測器：陣列探測器 光源：高功率的DUV-Vis-NIR復合光源 指示角度變化：可編程設定，自動可調(diào) 平臺：ρ-θ配置的自動成像 軟件：TFProbe3.2版本的軟件 計算機：Inter雙核處理器、19”寬屏LCD顯示器 電源：110–240VAC/50-60Hz，6A 保修：一年的整機及零備件保修

基本參數(shù)：

波長范圍：250nm到1000nm 波長分辨率:1nm 光斑尺寸：1mm至5mm可變 入射角范圍：10到90度 入射角變化分辨率：0.01度 樣品尺寸：較大直徑為300mm 基板尺寸：較多可至20毫米厚 測量厚度范圍*：0nm?10μm 測量時間：約1秒/位置點 準確度*：優(yōu)于0.25％ 重復性誤差*：小于1?

應用領域：?

半導體制造（PR，Oxide,Nitride..) 液晶顯示（ITO，PR，Cellgap.....） 醫(yī)學，生物薄膜及材料領域等 油墨，礦物學，顏料，調(diào)色劑等 醫(yī)藥，中間設備 光學涂層，TiO2,SiO2,Ta2O5..... 半導體化合物 在MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜 非晶體，納米材料和結晶硅

產(chǎn)品可選項：

用于反射的光度測量或透射測量 用于測量小區(qū)域的微小光斑 X－Y成像平臺(X-Y模式，取代ρ-θ模式) 加熱/致冷平臺 樣品垂直安裝角度計 波長可擴展到遠DUV或IR范圍 掃描單色儀的配置 聯(lián)合MSP的數(shù)字成像功能，可用于對樣品的圖像進行測量

北京燕京電子有限公司成立于1988年，是北京電子控股有限責任公司直屬企業(yè)，是一家大部分國家集成供應商和有經(jīng)驗設備及儀器的服務商。公司目前經(jīng)營規(guī)模超億元，主營業(yè)務為向國內(nèi)外科研院所、大型設備制造業(yè)和資金業(yè) 提供成套集成供應及有經(jīng)驗設備儀器的維護、運行等有經(jīng)驗化的系統(tǒng)解決方案和服務。在大部分國家制造行業(yè)，燕京公司在世界各地擁有眾多的長期代理商和合作伙伴，經(jīng)過長期合作交流的實踐建立了廣泛的市場營銷網(wǎng)絡。同時與國內(nèi)各相關領域的重要 廠商也建立有良好的合作關系，為大型設備制造業(yè)的客戶提供成套原材料、零部件及電子元器件。

主營產(chǎn)品：光學測厚儀,光學參數(shù)測試,光譜橢偏儀,膜系分析設備,等離子清洗機 公司成立年份：1988
公司網(wǎng)址：http://beijingec.glass.com.cn

地區(qū)：北京 北京 北京市
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